更新日期:2023-08-15
絕緣護(hù)套低溫沖擊試驗裝置排行榜,符合GB∕T2951.14-2008電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法第14部分:通用試驗方法—低溫試驗;GB∕T2951.4-1997如果試驗設(shè)備已預(yù)冷,并且試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗溫度,則允許縮短冷卻時間
絕緣護(hù)套低溫沖擊試驗裝置排行榜符合GB∕T2951.14-2008電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法第14部分:通用試驗方法—低溫試驗;GB∕T2951.4-1997如果試驗設(shè)備已預(yù)冷,并且試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗溫度,則允許縮短冷卻時間,但不得少于1h如果有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中有規(guī)定,也適用于無護(hù)套的電線、軟線和扁平軟線的聚錄乙烯絕緣
KTR006絕緣護(hù)套低溫沖擊試驗裝置排行榜,
一、概述
低溫沖擊試驗裝置適用用于考核電線電纜附件在低溫情況下的耐沖擊性能,與低溫箱配套使用。符合GB2951.14-2008、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)。
1、低溫沖擊高度:100mm
2、砝碼:100、200、300、400、500、600、750、1000、1250、1500g
3、本系列裝置全為不銹鋼制作
二、試驗方法
1、概述
聚錄乙烯絕緣和護(hù)套低溫沖擊試驗適用于各種聚錄乙烯護(hù)套電纜,而與絕緣線芯的絕緣類型無關(guān)。如果有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中有規(guī)定,也適用于無護(hù)套的電線、軟線和扁平軟線的聚錄乙烯絕緣。
護(hù)套電纜的聚錄乙烯不直接進(jìn)行低溫沖擊試驗。
2、取樣和試樣制備
取三個成品電纜試樣,每個試樣長度至少應(yīng)是電纜直徑的5倍,zui短150mm。應(yīng)去除所有外護(hù)層。
3、試驗設(shè)備
本試驗用設(shè)備如圖2及注釋。
設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上,試驗前和試驗期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)。
三、試驗條件
對于固定敷設(shè)的電纜試樣,試驗用落錘重量應(yīng)按下表的規(guī)定:
試樣外徑D/mm落錘重(質(zhì))量/g
D≤4.0100
4.0<D≤6.0200
6.0<D≤9.0300
9.0<D≤12.5400
12.5<D≤20.0500
20.0<D≤30.0750
30.0<D≤50.01000
50.0<D≤75.01250
75.0<D1500
對軟電纜、軟線和通信電纜的試樣,試驗用落錘質(zhì)(重)量應(yīng)按下表的規(guī)定:
試樣外徑D/mm落錘重(質(zhì))量/g
對于扁平軟線100
D≤6100
6.0<D≤10.0200
10.0<D≤15.0300
15.0<D≤25.0400
25.0<D≤35.0500
35.0<D600
四、試驗步驟
試驗設(shè)備和被試電纜試樣應(yīng)并排放在低溫箱中保持在規(guī)定溫度下冷卻至少16h,其中包括試驗設(shè)備的冷卻時間。如果試驗設(shè)備已預(yù)冷,并且試樣已達(dá)到規(guī)定的試驗溫試,則允許縮短冷卻時間,但不得少于1h。
規(guī)定的冷卻時間結(jié)束后,每個試樣應(yīng)依次放在圖2所示的位置上,落錘應(yīng)從100mm高處落下。
試驗后使試樣恢復(fù)到接近室溫,然后檢查無護(hù)套電纜或軟線的絕緣。
使試樣保持平直,將試樣以每100mm扭轉(zhuǎn)360º進(jìn)行扭絞,然后對絕緣進(jìn)行檢查。若絕緣試樣不能這樣扭絞,則按護(hù)套的規(guī)定進(jìn)行檢查。
檢驗電纜或軟線護(hù)套前,應(yīng)先使其恢復(fù)到接近室溫后浸入熱水,然后再沿著電纜軸向?qū)⒆o(hù)套切開。(40~50º的熱水是合適的)
檢查護(hù)套和絕緣的內(nèi)、外表面。護(hù)套電纜或軟線的絕緣只檢查外表面。
取三個成品電纜試樣,每個試樣長度至少應(yīng)是電纜直徑的5倍,zui短150mm;應(yīng)去除所有外護(hù)層設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上,試驗前和試驗期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)如果三個試樣中有一個有裂紋,則應(yīng)再取三個試樣重復(fù)進(jìn)行試驗;如果這三個試樣均無裂紋,則符合試驗要求;如仍有任何一個試樣有裂紋,則電纜或護(hù)套不符合試驗要求