體積表面電阻率測試儀

發(fā)布日期：2017-07-17      瀏覽次數(shù)：656

體積表面電阻率測試儀測試完畢將電阻電流量程拔至“104"檔，電壓量程調(diào)至10V后關(guān)閉電源；每測量一次均應(yīng)將量程開關(guān)撥回到104“調(diào)零"檔的量程位置以免開機(jī)或測量端短路時(shí)而損壞儀器測量電流及1015Ω以上超高電阻的測量應(yīng)用時(shí)，測量電流后用歐姆定律以電壓除以電流計(jì)算電阻的方法體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換：在測試過程中，使用屏蔽箱在進(jìn)行體積電阻和表面電阻轉(zhuǎn)換時(shí)，必須把電源關(guān)閉后進(jìn)行檔位轉(zhuǎn)換，否則會導(dǎo)致電壓沖擊到主機(jī)無法顯示或損壞

K-D1410體積表面電阻率測試儀
一、主要特點(diǎn)
電阻測量范圍1×104Ω～1×1018Ω；
電流測量范圍2×10-4Ａ～1×10-16Ａ；
體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高；
*的被測電阻、和流過電阻的電流雙顯示，使操作測量更加方便；
性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
既能測電阻又能測電流；
測試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
使用操作簡便，在任何電阻量程和測試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，免去要乘以一個系數(shù)的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。
二、概述
本儀器既可測量超高電阻，又可測極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí)直接顯示流過被測電阻的電流。電阻量程從1×104Ω～1×1018Ω，電流測量范圍為2×10-4A～1×10-16A。機(jī)內(nèi)測試電壓為DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。
本儀器具有精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便,適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外，還能直接測量電流如電子器件暗電流等。
三、技術(shù)指標(biāo)
1.電阻測量范圍：1×104Ω～1×1018Ω，分為十個量程。
2.電流測量范圍為2×10-4A～1×10-16A
3.全數(shù)字液晶屏顯示。
4.準(zhǔn)確度:準(zhǔn)確度優(yōu)于下表:
量程有效顯示范圍20～30℃RH<80%
1040.01~19.991%
1050.01～19.992%
1060.01～19.993%
1070.01～19.994%
1080.01～19.995%
1090.01～19.995%
10100.01～19.995%+2字
10110.01～19.995%+2字
10120.01～19.995%+5字
10130.01～19.9910%+5字
10140.01～19.9910%+5字
1014以上0.01～19.9910-15%+5字
(超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加)測試電流準(zhǔn)確度與電阻相同
測試電壓準(zhǔn)確度為10%
5.使用環(huán)境:溫度-10℃～50℃相對濕度<90%。
6.測試電壓:DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7.供電形式:AC220V，50HZ，功耗約10W。
8.儀器尺寸:300ｍｍ×280ｍｍ×150mm。
四、工作原理
根據(jù)歐姆定律，被測電阻R等于施加電壓V除以通過的電流I。即R=V/I
傳統(tǒng)的儀器的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過被測物體的電流I以標(biāo)定電阻的刻度來讀出電阻值。從上式可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會有些變化，所以普通的高阻計(jì)的精度是很難提高的。

應(yīng)在“Rx"兩端開路時(shí)調(diào)零（主機(jī)開機(jī)）：如接在電阻箱或被測量物體上時(shí)調(diào)零后測量會產(chǎn)生很大的誤差；一般一次調(diào)零后在測試過程中不需再調(diào)零，但改變測量電壓后可能要重新調(diào)零禁止將“Rx"兩端短路（三個電極不允許直接接觸），以免微電流放大器受大電流沖擊導(dǎo)致儀器損壞在測試過程中不要隨意改動測量電壓：隨意改動測量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器